熱門(mén)關(guān)鍵詞： 高低溫試驗(yàn)箱 可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱 PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī) 無(wú)風(fēng)烤箱 鹽霧試驗(yàn)箱
高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱滿足GB/T2423.1(IEC60068-2-1)；GB/T2423.2(IEC60068-2-2)；ISO16750；GB/T14710；GB/T13543；JESD22等系列標(biāo)準(zhǔn)中的溫度試驗(yàn)。
可非標(biāo)定制尺寸大小、溫濕度范圍。
高低溫（濕熱）試驗(yàn)箱是模擬產(chǎn)品在氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作與儲(chǔ)存、溫度循環(huán)、高溫高濕、低溫低濕、結(jié)露試驗(yàn)...等)，檢測(cè)產(chǎn)品本身的適應(yīng)能力與特性是否改變的試驗(yàn)設(shè)備。一般用于材料可能發(fā)生軟化、效能降低、特性改變、潛在破壞、氧化等現(xiàn)象。例如：填充物和密封條軟化或融化、電子電路穩(wěn)定性下降，絕緣損壞、加速高分子材料和絕緣材料老化。在低溫時(shí)產(chǎn)品所使用零件、材料可能發(fā)生龜裂、脆化、可動(dòng)部卡死、特性改變等現(xiàn)象。例如：材料發(fā)硬變脆、電子元器件性能發(fā)生變化、水冷凝結(jié)冰、材料收縮造成機(jī)械結(jié)構(gòu)變化。
準(zhǔn)時(shí)交貨率高達(dá)99% 立即咨詢
滿足GB/T2423.1(IEC60068-2-1)；
GB/T2423.2(IEC60068-2-2)；
ISO16750；GB/T14710；
GB/T13543；
JESD22等系列標(biāo)準(zhǔn)中的溫度試驗(yàn)。
全自動(dòng)配合待測(cè)品負(fù)載量控制壓縮機(jī)冷媒流量達(dá)到省電目的
有效的低濕度控制范圍40℃/10%RH效能
同業(yè)數(shù)量多機(jī)臺(tái)安全保護(hù)偵測(cè)點(diǎn)
斜率段與恒溫段同步溫濕度設(shè)定
完整即時(shí)試驗(yàn)曲線分析顯示，無(wú)時(shí)間限制
試驗(yàn)結(jié)束待測(cè)品回常溫保護(hù)機(jī)制
機(jī)臺(tái)蓄水桶預(yù)知缺水警告
溫濕度試驗(yàn)設(shè)備的標(biāo)志性產(chǎn)品。適用標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db：交變濕熱 （12h+12h循環(huán)）
GB/T 2423.22-2002 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化
GB/T 2423.34-2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)
第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗(yàn)
GB/T 10586-2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
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